高低温测试箱非散热试验样品的标准试验目的是为了提供一种标准的试验程序，用以确定非散热的电工电子产品(包括元件、设备和其他产品)在低温贮存或使用的适应性，试验样品应在低温下放置足够长时间以达到温度稳定，试验持续时间通常从试验样品达到温度稳定时开始计算。
本高低温测试箱是将具有室温的试验样品放入温度也为室温的高低温测试箱内，然后将试验箱的温度调整到符合相关规范规定的严酷等级的温度值，在试验样品达到温度稳定后，在改条件下暴露规定的持续时间，试验样品通常处于不工作状态下，本试验通常采用强迫空气循环，试验箱工作空间内，应提供标准试验规程所要求的温度条件，可以用强迫空气循环来保持温度均匀。
为了限制辐射影响，高低温测试箱箱内壁各部分温度与规定试验温差之差不应该超过8%(按开尔文温度计算)，且试验样品不应受到不符合上述要求的任何加热与冷却元件的直接辐射。
