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MicroCT的空间分辨率测试解决方案

教育装备采购网 2021-07-15 11:10 围观0次

  多年来,已经提出了许多评估microCT系统性能的方法。通常,高分辨率的限制因素是焦点尺寸。这就是为什么许多测试仅依赖于从2D投影图像确定光斑大小的原因。但是,3D中的真实空间分辨率取决于更多因素,而不仅仅是系统的机械精度。与持续时间相对较短的2D测试相比,所需的时间稳定性要求更为严格。最后,处理和重建算法对3D可获得的空间分辨率也有重大影响。

  MicroCT的3D空间分辨率测试用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom

  评估3D空间分辨率的一个很好的工具是可用德国QRM GmbH获得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。体模包含两个放置在正交位置的硅芯片,包围了1至10μm的多个分辨率测试图案。在"使用QRM公司的MN099_3D空间分辨率"中,模体的使用以SkyScan 1272台式高分辨率微CT为例。

  可选地,ASTM E 1695-95包含基于均匀圆柱状测试对象(例如铝销)的扫描的测试方法。3D空间分辨率通过调制传递函数进行量化。另外,给出了确定对比灵敏度的指令。

MicroCT的空间分辨率测试解决方案

MicroCT的空间分辨率测试解决方案

  来自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom扫描的重建切片,使用SkyScan 1276高分辨率体内微型CT进行了扫描,图像像素尺寸为2.8μm。

  MicroCT 2D空间分辨率——JIMA RT RC-04分辨率测试卡

  通过测试对象(例如由W合金或Pt制成的球或交叉线)对传输曲线的仔细评估,可以确定边缘的不清晰度。由此可以根据EN 12543-5:1999中所述计算光斑尺寸,或者对于5μm至300μm的光斑尺寸,也可以按照ASTM E 2903-13进行计算。对于更高分辨率的系统,可以通过分析从线条或星形图案确定的调制传递函数MTF来计算焦点尺寸。所述JIMA分辨率测试卡RT RC-04RT RC-02B包含线图案范围为0.1 - 10微米,0.4 - 15微米分别。

MicroCT的空间分辨率测试解决方案

  通过SkyScan 2211多尺度X射线nanoCT获得的MicroChart JIMA RT RC-02B的投影图像。

  详细参数见具体产品详情页:

MicroCT的空间分辨率测试解决方案

MicroCT的空间分辨率测试解决方案

MicroCT的空间分辨率测试解决方案

  德国QRM是一家质控模体生产厂家,主要重点是诊断X射线,CT和微CT成像领域。能够提供模体来分析图像质量(IQ),校准HU级别以及剂量学问题。

  JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

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