方块电阻资讯大全_教育装备采购网

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数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M标准而的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。仪器由主...

2019-01-07 围观424次 [应用] 高教

恒奥德本月回馈老客户惠仪器四探针测试仪数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M标准而设计的，用于测试半导体材料电...

2017-11-02 围观440次 [简讯] 职教

方块电阻的简介以及影响探头法测试方阻度的因素:简介Sheetresistance蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚度的好方法就是测试它们的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方...

2016-11-07 围观2612次 [维修] 职教

2016-03-28 围观263次 [应用] 全领域

低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪型号;DP-KDY-1仪器采用GB/T1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法（2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米方块电阻1...

2016-03-18 围观394次 [应用] 全领域

方块电阻测试仪/电阻测试仪?方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄...

2015-04-24 围观219次 [应用] 全领域

RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。

2015-03-14 围观217次 [应用] 全领域

仪器采用GB/T1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法(2)范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米方块电阻10-4～10+4欧姆/□，小分辨率为10-4欧姆/□...

2014-10-22 围观1346次 [原理] 全领域

HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导...

2014-09-03 围观1359次 [导购] 职教