摘要：本发明公开了一种频率偏差与相位偏差的联合测量方法及装置。本发明在对移动通信终端进行测试过程中，不考虑多用户干扰的情况下，提供了一种基于矩阵预处理机制的频偏和相偏联合测量方法，其利用预先构造的结构矩阵，对其进行经济型的简化QR分解，并以之求采样数值曲线的回归线最小二乘解，从而得到频率偏差和相位偏差的最优解。采用本发明可实现频率偏差与相位偏差的联合测量，且与现有技术相比具有更高算法效率和更强的适用性。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海创远仪器技术股份有限公司;
- 发明人张力;张途;
- 地址200233 上海市徐汇区桂箐路69号28幢4楼
- 申请号CN201110316111.X
- 申请时间2011年10月18日
- 申请公布号CN102387098A
- 申请公布时间2012年03月21日
- 分类号H04L25/02(2006.01)I;H04L25/03(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
