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    对GSM下行干扰的区域分析方法

      摘要:本发明涉及一种对GSM下行干扰的区域分析方法,首先,对主服务小区的各频点C/I分段进行统计加权处理算出干扰强度;然后,统计小区的场强算出一个平均场强;最后,判断小区的干扰强度和平均场强,当平均场强和干扰强度都大于经验值就判断该小区有干扰,干扰的严重程度就是干扰强度,值越大干扰越严重。确定了存在干扰的小区后,再结合辅助数据找出可能的干扰源。从辅助数据中查找和存在干扰的小区同频和邻频的小区,统计该小区的平均场强结合存在干扰小区的数据计算干扰相关度,当干扰相关度大于经验值就判定该小区对存在干扰的小区有干扰。干扰相关度的值越大,就表示该小区对存在干扰的小区的干扰越强。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人武汉虹信通信技术有限责任公司;
    • 发明人马晶;明慧芳;
    • 地址430074 湖北省武汉市洪山区邮科院路88号
    • 申请号CN201210167723.1
    • 申请时间2012年05月28日
    • 申请公布号CN102711154B
    • 申请公布时间2014年08月06日
    • 分类号H04W24/02(2009.01)I;H04W24/08(2009.01)I;