摘要：本发明公开了一种RRU批量老化的系统及方法，系统包括调测试计算机，基带数据收发器，待老化RRU，功率负载。调测试计算机通过串口与基带数据收发器相连，基带数据收发器通过独立光口与第一级RRU光口0连接，第一级RRU光口1与第二级RRU光口0相连，以此类推连接后级RRU，RRU射频输出口与功率负载相连；步骤包括：基带数据收发器设置基帧中的固定字节标示工作模式为批量老化模式并填充运营商测试用各带宽数据源到对应AxC中，RRU获取并配置工作模式为老化模式，获取基带数据进入老化。采用本发明的系统和方法能方便地实现批量和不同制式、频段、通道RRU的混连老化，降低RRU批量老化系统的复杂度，节省成本。
- 专利类型发明专利
- 申请人武汉虹信通信技术有限责任公司;
- 发明人何涛勇;王冉;周世军;杨浩;王艳欢;冯战奎;
- 地址430073 湖北省武汉市东湖高新技术开发区东信路5号
- 申请号CN201510130011.6
- 申请时间2015年03月24日
- 申请公布号CN104796933A
- 申请公布时间2015年07月22日
- 分类号H04W24/02(2009.01)I;H04W24/04(2009.01)I;
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京公网安备11010802043465号
