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焦粒电阻率测定仪
  • 焦粒电阻率测定仪
  • 焦粒电阻率测定仪

    产品报价: 面议
    品  牌:北京冠测
    产品型号:GEST-126
    适用范围:高教
    所在地区:北京 昌平区
    应用学校:理工大学
    (联系我时,请说明是在教育装备采购网上看到的,谢谢!)
    产品分类
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    详细说明

      焦粒电阻率测定仪

    导体粉末电阻率测试仪

      产品名称:导体粉末电阻率试验仪

      产品型号:GEST-126

      参考标准:YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分:粉末电阻率的测定.pdf

      GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

      产品概述:

      粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

      由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

      阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

      仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

      试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

      仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和guo家标准的要求。

      仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业,进行检测必备测试设备。

      仪器主要技术指标:

      一、 测量范围:

      测量半导电电阻率时:电阻率10-6—105Ω-cm;分辩率10-8Ω-cm

      测量其他(电线电缆)电阻时:电阻10-4--2X105Ω,分辨率0.01uΩ

      焦粒电阻率测定仪

      参数资料

      1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□

      2.电阻率范围:10-6~2×106Ω-cm 

      3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

      4.电流精度:±0.1%读数

      5.电阻精度:≤0.3%

      6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

      7.测试方式: 普通单电测量

      8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

      9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

      10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

      11.测试探头:   探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

      四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。

      电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。

      z常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。

      焦粒电阻率测定仪

      二、电压测量:

      1.量程2 mV、20 mV、200 mV、2V

      2.测量误差2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

      3.显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

      三、恒流源:

      1.电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A

      2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

      四、数据打印:

      可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、电阻值

      五、测量电极:

      1、电极材质:铜

      2、测量距离:10MM

      六、粉末套筒:

      1、内径:16mm

      2、行程:50 mm

      七、粉末测试专用恒加载装置及测试电极:

      电极是双柱型、立式结构

      加载机构:步进电极

      加载方式:自动加载

      负荷传感器:10KN

      负荷显示方式:力值、压强

      负荷加载:设定好指定的负荷后,自动加载并恒负荷保持

      试验流程:把被测试样安装并固定好后,设定好要加载的负荷和保持时间,点击开始后,自动加载,到达设定的负荷后自动停止,到达设定的时间后,自动返回初始位。

      样品量和电极尺寸,依据客户要求协商确定。

      套筒内经:16MM/30MM

      焦粒电阻率测定仪

      四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法:

      一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须按照以下步骤进行操作:

      1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝,轻轻脱下尾部航空插口,保证探针头部旋转时同步旋转,防止扭线断线,短接;

      2、轻轻拧开探针头子,然后小心将铜片拉出,记住七片绝缘片与铜片之间的位置,(四片铜片每片间夹一片绝缘片,两边的铜片外侧各两片),将断针从铜片卡口座里取下即可;

      3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱,铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列,并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列,以免短接;

      4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子,并先将探针头子拧紧,再将尾部航空头插上,并且旋紧小螺丝;

      5、将针装好,注意针头针尾方向,尖头为探针头部。

      数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法guo家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。

      仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

      仪器采用了guo新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

      本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

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