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介电常数分析仪

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北京冠测
GCSTD-D
北京冠测精电仪器设备有限公司
高教
北京 昌平区
化工大学
详细说明

  介电常数分析仪

高低频介电常数测试仪

GCSTD-D

  一、满足标准:

  GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

  GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

  ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

  二、试验方法:

  接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

  非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料

  电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)

  液体电极-液体容量15ml

  粉体电极-根据样品量可配专用电极

  试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物

  五、随机配置

  1、主机:1台

  2、测试电极:1套

  3、数据线:1套

  4、电源线:1根

  5、合格证:一份

  6、测试系统:一套

  六、技术参数

测试参数

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率

20 Hz~2MHz,10mHz步进


测试信号电

f≤1MHz

10mV~5V,±(10%+10mV)

f>1MHz

10mV~1V,±(20%+10mV)

输出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度

0.1%

L

0.0001 uH ~ 9.9999kH


C

0.0001 pF ~ 9.9999F


R,X,Z,DCR

0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ


显示范围

Y, B, G

0.0001 nS ~ 99.999 S

D

0.0001 ~ 9.9999


Q

0.0001 ~ 99999


θ

-179.99°~ 179.99°


测量速度

快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能

开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

等效方式

串联方式, 并联方式

量程方式

自动, 保持

显示方式

直读, Δ, Δ%

触发方式

内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏

电压模式

-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源

电流模式(内阻为50Ω)

-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能

10档分选及计数功能

显示器

320×240点阵图形LCD显示

存储器

可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)


USB HOST(FAT16 and FAT32 support)


接口

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB(选件) 

  介电常数分析仪

  该仪器同样适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量;对绝缘油的损耗测试、更具有方便、简单、准确等优点。

  该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接地的高压电器设备。

  仪器内部装备了高压升压变压器,并采取了过零合闸、防雷击等安全保护措施。试验过程中输出0.5KV~10kV不同等级的高压,操作简单、安全。

  变频介质损耗测试仪是一种新型的智能化变频介质损耗测试仪,随着城乡电网改造的不断深入,更高电站越来越多,倒相法、移相法,已不能满足现场测试需求,异频测量(变频),把50HZ变成其它频率,可以排除干扰。

  但由于电子技术的限制,其变频后的频率一般离50HZ有一定距离,其50Hz条件下的电容值cx及tgδ 值是换算模拟出来的,与真实工频测试有一定的距离,尤其对少数被试品,测出数据就有明显误差,经过综合比较,现研制一种新型介质损耗测试仪,其原理不改变频率,能得到50HZ条件下电容值cx及tgδ值,提高测量可靠性和准确性,完全抑制电场干扰,满足电场下的使用要求,该仪器体积小,重量zui轻,便于携带。

  有灵活的扩展性,通过接口与计算机连接,使用强大的软件附件,对仪器升级,人性化设计,全自动操作本仪器适合500kv及以下电站有干扰现场的试验。本仪器通过guo家电力研究所及行业专家鉴定,并获得guo家高电压

  1、抗干扰方式:变频抗干扰

  2、测试方式:正接法 反接法 自激法 外接法 

  3、测量范围: 

  电容量:内接高压 <3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV

  外接高压 3pF~0.3μF/10kV zui小分辨率0.01pF 有效数字五位 

  介损:不限,zui小分辨率0. 01%

  4、准确度:

  电容量:±(1.5%读数+2pF) 介损:±(2%读数+0.09%)

  内接试验电源:0.5~10kV 电压缓升缓降 45、50、55、60、65Hz单频 

  45/55Hz自动双频测试 输出电流200mA

  自激电源3~50V变频 输出电流20A

  5、测量时间:约30秒(与测量方式有关) 6、附加功能:100组数据存储

  6、输入电源:供电电源180~240VAC 50Hz(市电或发电机供电)

  7、工作环境:温度范围:-10℃~50℃ 相对湿度<90%

  1.2 变频介质损耗测试仪主要功能特点

  1.2.1变频抗干扰

  变频抗干扰介质损耗测试仪采用变频抗干扰技术,在200%干扰下仍能准确测量,测试数据稳定,适合在现场做抗干扰介损试验。

  1.2.2高精度测量

  变频抗干扰介质损耗测试仪采用数字波形分析和电桥自校准等技术,配合高精度三端标准电容器,实现高精度介损测量。

  变频抗干扰介质损耗测试仪所有量程输入电阻低于2Ω,消除了测量电缆附加电容的影响。

  1.2.3多级安全保护,确保人身和设备安全

  高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能以短路方式高速切断输出。

  低压保护:误接380V、电源波动或突然断电,启动保护,不会引起过电压。

  接地保护:仪器接地**使外壳带危险电压时,启动接地保护。

  C V T:高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限,不会损坏设备;误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。

  防误操作:两级电源开关;电压、电流实时监示;多次按键确认;接线端子高/低压分明;缓速升压,可迅速降压,声光报警。

  防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。

  抗震性能:仪器采用独特抗震设计,可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。

  高压电缆:为耐高压绝缘导线,可拖地使用。

  1.2.4功能强大,产品系列化

  本一起有两种型号: E和F型。

  介电常数分析仪

  三、性能特点

  ■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进 ■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

  四、简要介绍

  测试材料:

  无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

  半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

  其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

  介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

  磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

  半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

  液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

  介电常数分析仪

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