薄膜介电常数测定仪
GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪
满足标准：
GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法
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一、产品概述
本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。
本测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。
二、性能特点
1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。
2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。
3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。
4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。
5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。
三、技术指标
技术指标
1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）
2、相对湿度：20%～80%
3、供电电源：电压：220V±10%
4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm
5、重量：16kg
6、输出功率：1.5KVA
7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围：内接试验电压：
tgδ：99.9%
Cx ：50 pF＜Cx（2.5KV）＜0.3UF
2.5KV Cx＜0.3uF
0.5KV Cx＜1.5uF
外接试验电压：
由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%
电容容量（Cx）：1.5%±1pF
11、分辨率： tgδ：0.01%
Cx ：0.1pF
12、试样要求：直径为50MM、100MM、38MM
四、配套清单
序号 | 名称 | 数量 | 单位 |
1 | 介损自动测试仪 | 1 | 台 |
2 | 高压输出屏蔽电缆 | 1 | 根 |
3 | 试品输入电缆 | 1 | 根 |
4 | AC 220V/10A电源线 | 1 | 根 |
5 | 打印纸 | 2 | 卷 |
6 | 保险管5A | 4 | 支 |
7 | 接地线 | 1 | 根 |
8 | 出厂检验报告 | 1 | 份 |
9 | 产品说明书 | 1 | 份 |
五、电极选择
选择不同的电极测试固体和液体材料
1、 固体材料电极直径分别有:38mm 50mm 100mm,随机标配一套电极100MM
(也可以根据试样规格进行订制)
2、 测试液体需要容量为：15cm３
薄膜介电常数测定仪
2.13通讯接口
功 能：RS232接口，与PC机或笔记本电脑的串行通讯口连接。为保证通讯正常，双方应设置相同的波特率和通讯地址。
通讯协议：仪器与PC机按规定协议通讯，实时操作仪器，实现数据存储传送等功能。
有效地发现电器设备绝缘的整体受潮劣化变质，以及局部缺陷
采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据
过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏
内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线
1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量； 2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据；3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏；4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线； 5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。
介损绝缘试验可以有效地发现电器设备绝缘的整体受潮劣化变质，以及局部缺陷等，在电工制造、电气设备安装、交接和预防性试验中都广泛应用。
抗干扰介质损耗测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。
薄膜介电常数测定仪
测定材料的电容率和介质损耗因数，zui好采用板状试样，也可采用管状试样。
在测定电容率需要较高精度时，的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。
需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容zui好取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF
薄膜介电常数测定仪
