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J200 LIBS元素分析系统
  • J200 LIBS元素分析系统
  • J200 LIBS元素分析系统

    产品报价: 面议
    产品型号:J200
    适用范围:高教
    所在地区:
    (联系我时,请说明是在教育装备采购网上看到的,谢谢!)
    详细说明

    J200 LIBS元素分析系统


      技术背景

      激光诱导击穿光谱法(LIBS)是一种快速化学分析技术,它使用短激光脉冲在样品表面上产生高能等离子体,之后在等离子体冷却过程中,处于激发态的原子和离子的电子回迁至基态,导致等离子体发射出具有离散光谱峰的光,然后收集这些光进行光谱分析。元素周期表中的每个元素都与一个LIBS光谱峰相关,通过鉴定不同的光谱峰,可以快速确定样品化学组成,LIBS峰强度信息可用于量化样品中元素的浓度。随着化学计量软件的发展和激光烧蚀应用基础研究的进步,分析研究人员正在将LIBS技术应用于各行各业样品基质的定性和定量分析。

      J200 LIBS元素分析系统是美国APPLIED SPECTRA(ASI)公司开发的LIBS产品,系统基于美国劳伦斯伯克利国 家实验室30多年激光剥蚀基础理论研究成果,系统快速、可靠、环保,可适应从实验室到现场再到生产车间的各种应用环境。

      系统功能

      J200 LIBS元素分析系统专为处理需高灵敏度和准确性的分析而设计,周期表中许多元素检测限可达ppm个位数,是挑战样品基质中多元素定量分析的理想设备。系统实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量,包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法(包括ICP-MS)不能测量的元素。系统先进的设计确保每个激光脉冲的可重复测量结果。

      J200 LIBS元素分析系统开创了激光等离子光谱化学分析技术的新时代,首次将LIBS技术和ICP-MS结合,将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更准确的分析,有效避免酸溶、消解等样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入,同时大幅提升元素检测限,实现ppb以下至100 %含量测量范围,还能进行元素空间分布制图(elements mapping)。此外,系统在分析同位素的同时还能进行主量元素分析。

      J200 LIBS元素分析系统目前已广泛用于美国劳伦斯伯克利国 家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室、巴西圣保罗大学美国西北太平洋国 家实验室等众多知名机构。

      检测范围

      J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品,包括土壤,植物,矿石、生物组织,刑侦材料(玻璃、油墨等),合金,半导体,绝缘体,塑料,薄涂层和电子材料等等。

      检测元素种类具体包含:

    • 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S

    • 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl

    • 痕量元素:可检测化学周期表上大部分元素

    • 有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等(其他技术难同时检测)

    • 同位素(升级与ICP-MS 联用测量)

      应用领域

    • 常规土壤元素分析

    • 土壤污染检测

    • 刑侦微量物证分析

    • 煤粉组分分析

    • 矿物岩石检测

    • 生物组织分析

    • 农产品安全分析

    • 合金分析

    • 宝石鉴定

    • 各种材料分析等

      可靠硬件

      优化等离子体光收集。J200 LIBS采用独特的聚光光学设计,将尽量多的等离子光耦合到检测器模块,实现高灵敏度测量。

      系统确保极高的准确性和可重复性。LIBS分析种提高LIBS数据精度的关键要求之一是激光始终如一的聚焦到样品表面。剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合,解决了样品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题。激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致,系统标配3D全自动操作台。这确保系统分析准确且可重复。

      系统可升级与ICP-MS连用,在进行LIBS元素分析的同时,将固体样品剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系统,实现更准确分析。这弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的不足,也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS联用。

      系统标配固体样品室,还可选择配置气体或液体样品室,通过设置可自动切换光路系统,实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换,无需人为拆卸。

      系统的硬件采用模块化设计,易于更新。激光器和光谱仪(检测器)可根据样品的种类及用户研究目的进行升级,两者均不受外界环境温度影响,无需进行特殊的环境控制,使用寿命长。

      系统具备双摄像系统,分别用于广角成像整体观察样品确定采样区域,然后另一个成像系统放大样品区域进行采样。

      激光能量和激光光斑大小连续可调,激光脉冲能量稳定一致,可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析(直径可达5μm)、元素分布制图、高精度定量等多种分析。

      强大软件

      系统软件能实现对所有硬件组件的控制,能提供多种采样模式,包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等,通过设置参数,可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。

      ASI公司独有的TruLIBS?数据库是真正的等离子体发射光谱数据库,与NIST数据库相比,TruLIBS?数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线,各种搜索功能,如波长范围、元素种类和等离子体激发态,将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS?同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线,进行谱峰的识别和标记。

      系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景,自动计算谱线的净强度;计算两个波峰之比;自动计算所有波峰的标准偏差;同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时,软件自动统计监测LIBS的强度,监控信号质量,获得准确的定性和定量分析结果。

      数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能,易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品,例如土壤、植物样品等,以减少基质中其它元素对目标元素的影响,提高分析准确性。

      J200的数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别,并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图,展示样品的元素空间分布。

      产地:美国

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