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日立-手持式X射线荧光光谱仪X-MET8000系列

日立-手持式X射线荧光光谱仪X-MET8000系列
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日立
X-MET8000系列
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详细说明

  手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。

  为什么选择X-MET 光谱仪

  性能优异

  lX-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。

  l通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。

  操作简单

  l大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。

  符合人体工学

  lX-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度低。

  坚固耐用而拥有成本低

  l符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。

  l通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。

  l其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。

  数据管理

  l完全灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。

  应用

X-MET8000Smart

X-MET8000Optimum

X-MET8000Expert


废金属回收

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材料可靠性鉴定(PMI)检查

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制造与PMI QA/QC

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贵金属

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监管机构合规筛查

(消费品、包装、原材料…)

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?X-MET8000

Expert CG


环境土壤筛查

?X-MET8000

Expert Geo



环境土壤筛查

?X-MET8000

Expert Geo



金属镀层厚度测量

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?X-MET8000

Expert 

/ Expert CG

科技考古

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?X-MET8000Expert/ Expert CG/ Expert Geo


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