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F-200A型半导体器件通用测试机

F-200A型半导体器件通用测试机
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产品报价: 48000
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艾克思科技
F-200A-60V
高教
广东 深圳 宝安区
详细说明

  F-200A型半导体器件通用测试机

  一、概述

  F-200A半导体器件通用测试机是专为测量包括二极管、MOS管、IGBT、毫欧电阻等电子器件正向压降而设计,正向电流分为0.01-0.1A、0.1~1A、1~10A、10~200A四个档位,测量范围更广。

  0.01~0.1A:小电流硅堆、(高压二极管:定制60V)、0.1A内的小电流MOS管和二极管、LED、10~100Ω电阻等测试;

  0.1~10A:中小功率二极管、MOS管、0.1~1Ω电阻;

  10~200A:大功率二极管、MOS管、IGBT管、0~0.1Ω电阻、开关触点压降稳定性测试

  二、技术参数

  1.正向脉冲电流调节范围:0.01A~200A,四个档位,每个档位步进为档位满量程的0.01%(10-200A为10mA步进)

  2.脉冲宽度:300us-600us 固定值

  3.开路输出电压:≥65V

  4.正向压降测量范围:10mA-10A:60V;10A-200A:20V

  5.正向压降测量电流电压的分辨率:

测量范围

测试电流

分辨率

测试电压

分辨率

压降

测量范围

10~100mA

0.01mA

1mV

60V

100~1000mA

0.1mA

1mV

60V

1~10A

1mA

1mV

60V

10~200A

10mA

1mV

20V

  6.供电电压:AC220V±10%,50Hz

  7.消耗功率:≤100W

  8.工作温度:25℃±10℃

  9.串口RS485通信接口

  10.配电脑软件,输出特性曲线、导出图像和excel数据点

  11.测试仪器可脱机独立运行

  12.选配栅极测量选件,可测量栅极端口电容、栅极正反向漏电、测量IG/VGE、IC(ID)/VGE;选配极性自动切换选件,可自动切换电压电流正负极性;选配耐压测试盒选件,可测试5kV的器件耐压。有关选件具体信息,请咨询销售经理。

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