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介质损耗介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12700
复合材料介电常数损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12800
串联电阻介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12900
特性阻抗介电常数损耗测定仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥13000
无机非金属介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥11000
硫化橡胶介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12000
电力绝缘介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥13000
非金属材料介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥21000
液体绝缘介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12000
无机非金属材料介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12100
介电常数及介质损耗测定仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12300
介电常数及介质损耗测量仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12400
半导体高低频介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12500
非金属材料介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥12600
电气绝缘材料介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥15000
液体绝缘材料介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥14000
绝缘液体介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥23000
高频介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥15000
介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥14000
非金属介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
￥20000