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电气绝缘材料介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥15000液体绝缘材料介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥14000绝缘液体介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥23000非金属材料介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥21000特性阻抗介电常数损耗测定仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥13000串联电阻介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12900复合材料介电常数损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12800介质损耗介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12700非金属材料介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12600半导体高低频介电常数测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12500介电常数及介质损耗测量仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12400介电常数及介质损耗测定仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12300无机非金属材料介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12100液体绝缘介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12000电力绝缘介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥13000硫化橡胶介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥12000无机非金属介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥11000非金属介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥20000绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥19000液体介电常数及介质损耗测试仪
简介:GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数...
¥18000