在中国科学院武汉岩土力学研究所弯曲元项目招标中，欧美大地独家代理的英国GDS 弯曲元件试验系统BES 以出色的性价比一举中标!
GDS弯曲元件测试系统技术参数:
数据采集分辨率 (bits) = 16 bit (采用200ks/s 卡) 或 12 bit (采用1Ms/s 卡)
数据采集可以采用的增益范围= 16 (from x10 to x 4000)
为了减少重量采用钛插入物 (这点对试样帽来说非常重要)
GDS弯曲元件可以非常容易地在三轴压力室中测量土在小应变时的最大剪切模量。由于荷载和位移测量装置的分辨率和精度不够，因此，在室内非常小的应变条件下测量土的刚度是非常困难的。以前在三轴试验中测量小应变刚度通常采用局部应变传感器，但是这种传感器的价格很昂贵，通常用于科学研究。
GDS 弯曲晶片使得在三轴压力室中小应变情况下测量土的最大剪切模量变得更加容易。该系统采用一对弯曲晶片，一个发射，另一个接收，在土中传输S波和P波。
有两种型号不同的弯曲晶片可以采用：
P 和 S 波组合
只施加P 波
GDS 弯曲晶片被包装固定在试样帽或底座的“插入物”中。试样帽的插入物由钛制成，可以提供很高的轴向硬度，与用不锈钢制成的底座插入物相比，重量轻了一半。这可以将对轴向载荷的影响降到最小。
