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磁悬浮吸附、解析分析仪

磁悬浮吸附、解析分析仪
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Hiden
XEMIS
北京
详细说明
磁悬浮吸附、解析分析仪
 

XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。

  • XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

  • 外部感知技术,把敏感元件置于天平室外部,允许腐蚀性和易燃气体的操作
  • 几何对称、精密设计的微量天平
  • 内部容积小化
  • 大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg
  • 宽动态称量范围(0-200毫克)
  • 操作压力高达200bar
  • 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量
  • 无需重新归零或原位校准
  • 采用IGA特有的终点预测方法
  • 全金属结构由高品质的VCR装配
  • 模块化设计,与所有配件兼容且可升级

产品应用

XEMIS的应用领域:

  • 气体吸附分析
  • 等温线的测定
  • 动力学分析
  • 热力学研究
  • 储氢
  • 甲烷存储
  • 二氧化碳封存
  • 气体的分离与纯化
  • 超临界气体吸附
  • 页岩气和煤层沼气研究
  • 离子液体中的气体溶解度测量
  • 化学吸附研究
  • 化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)
  • 金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架
  • 活性炭、碳分子筛和模板碳
  • 沸石和沸石类物质
  • 多孔聚合物

该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。

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