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IFG200 FAB/离子枪

简介:HidenIFG200快速原子轰击/离子枪（FAB/IonGun）是采用技术的FAB/离子枪，进行静态、动态SIMS研究，表面和深度分析。应用：静态、动态SIMS研究俄歇电子波谱离子束溅射绝缘体的FAB/SIMS研究表面科学研究光栅/深度分析特点：2mm原子或离子束，当能量从0.5～5keV.FAB研究中，电荷交换室...

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品牌：Hiden Analytical 围观：1012次 产地：北京 产品详情

IG20 离子枪

简介:HidenIG20离子枪（IonGun），先进的离子枪，配合SIMS进行材料表面和深度的分析。应用：静态、动态SIMS俄歇电子谱离子束溅射表面科学研究光栅/深度分析特点：具有100m光斑直径的、0.5～5keV能量的强离子束高电流密度4.5mA/cm2电子轰击离子源具有氩和氧离子能力扫描线散射和离子束光...

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品牌：Hiden Analytical 围观：1290次 产地：北京 产品详情

3F/IDP 离子脱附分析质谱

简介:HidenIDP(IonDesorptionProbe)离子脱附分析探针用于研究ESD,PSDorUHV-TPD研究中释放出的低能量核素。IDP是电子、光子激发脱附研究中，进行离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析的三级过滤四极质谱仪。应用：释出组分的快速质量、能量监测选通输入分析，进行瞬时/TOF研究用表观M...

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品牌：Hiden Analytical 围观：754次 产地：北京 产品详情

二次离子质谱工作站

简介:HidenSIMS工作站(SIMSWorkstation－acompleteSIMSAnalysisFacility)，综合UHV/SIMS设备，进行的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。应用：各类型样品的快速转向静态、动态SIMS整合的离子源，便于RGA和SNMS表面改性/光栅研究SIMS表面绘图/成像表面污染物分析特点：HidenE...

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品牌：Hiden Analytical 围观：810次 产地：北京 产品详情

二次离子质谱

简介:二次离子质谱SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer仪器介绍EQS是差式泵式二次离子质谱（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometerBolt-Onprobe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用技术的SIMS探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。主要特点高灵敏度脉冲离子计...

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