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easyXAFS-台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES
简介:台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES美国easyXAFS公司推出的台式X射线吸收精细结构谱仪,采用的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,以高的灵敏度和光源质量,实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外,该设备还能够进行...
¥0三维微晶电子衍射仪——ELDICO ED-1
简介:三维微晶电子衍射仪——ELDICOED-1——开创性的电子束与高精度旋转设计,适用于研究粒径小于1000nm的晶体样品ELDICOScientificAG(theElectronDiffractionCompany,以下简称ELDICO公司)是一家成立于2019年的瑞士仪器公司,其生产的ED-1三维微晶电子衍射仪可用于新材料结构解析,解...
¥0多功能原位空间分辨反应器-德国REACNOSTICS
简介:多功能原位空间分辨反应器德国REACNOSTICS公司推出的新型多功能催化反应器,可实现测量和/或模拟反应器内的浓度、温度和流场,可视化呈现出物质在反应器不同位置的实时状态,并通过原位即时空间分辨光谱(OperandoSpectroscopy)实现对催化反应动力学的监测与控制。该技术解决了传...
¥0新一代X射线单晶定向系统-s-Laue
简介:新一代X射线单晶定向系统-s-Laues-Laue是日本Pulstec公司近期发布的一款基于圆形全二维面探测器技术的新一代X射线单晶定向系统。该设备配备六轴样品台,具有功率小(30KV/1.5mA,因此辐射小)、操作简单、测试效率高(典型X射线曝光时间为15秒)等特点,可提供台式、便携式(即将发布...
¥0聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d
简介:日本ADVANCERIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在销售量超过300台,广获科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCERIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZE...
¥0基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜
简介:基于NV色心的超分辨量子磁学显微镜磁性材料的显微观测有助于材料的微观结构及其形成机理的研究,随着科研的发展,磁性材料研究的尺度已经趋向于亚微米甚至纳米。因此,超高分辨和超高灵敏度的测试有助于对这些小尺寸的材料进行研究。源自瑞士苏黎世联邦理工大学自旋物理实验室的Qz...
¥0纳米薄膜热导率测试系统
简介:纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω—薄膜材料的热导率评价将变得为简便日本AdvanceRiko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量为简单。纳米薄膜热导率测试系统特点:1.在纳米尺度衡量薄膜的热导率开发...
¥0激光闪光法热常数测量系统
简介:TC-1200RH采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数:热导率(导热系数)、热扩散系数及比热容。使用红外金面炉替代传统电阻炉加热,大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。仅需1/4的时间(与使用电阻炉的传统型号相比...
¥0晶圆超快三维磁场探针台
简介:IBEX-300晶圆超快三维磁场探针台法国Hprobe公司于2017年3月在法国格勒诺布尔地区成立,旨在为集成电路领域提供快速、准确和灵活的测试设备,主要应用方向为磁随机存取存储器(MRAM)。MRAM技术作为芯片上系统嵌入式内存(SoC)的替代技术,越来越多的微电子行业的主要厂商对MRAM技术感...
¥0大气环境下热电材料性能评估系统
简介:大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM产品介绍:大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM可以在大气环境下,对负荷温差的热电材料产生的发电量和热流量进行测量,热电转换效率可以通过大发电量和热流量计算出。同时,该系统还可以长时间运行热循环测试,运用于热电新材料的开发,以及...
¥0小型热电转换效率测量系统-Mini-PEM
简介:产品介绍:小型热电转换效率测量系统Mini-PEM可测量热电材料的产生的电量及热电转换效率η。热电转换效率η可以通过产生的电量和热流来获得(电量是通过四探针法获得;热流是通过热流计获得)。应用方向:+发电量和热流量的测量;+计算热电材料模块的热电转换效率;+测量单一热电材料发...
¥0热电转换效率测量系统
简介:热电转换效率测量系统PEM产品介绍:热电转换效率测量系统PEM被设计用来测定热电转换效率η。通过对热电材料模块提供大温差500℃,可得到一维热流量Q和大发电功率P,从而测定热电转换效率η。产品特点:+通过高精度的红外线金面反射炉可完成快速性能评估和耐力测试;+上下表面能提供...
¥0塞贝克系数/电阻测量系统
简介:塞贝克系数/电阻测量系统ZEM——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻产品介绍:塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。产品特点:■拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;■测...
¥0TEGeta 多功能热电材料测量系统
简介:TEGeta多功能热电材料测量系统TEGeta—热电材料研究利器:TEGeta是德国PANCO公司新研制的一款高精度多功能的热电性能测量设备。它的工作原理是通过热端和冷端在材料中形成温度梯度,然后高精度测量样品中的热流、电流和热电势,通过不同外阻的匹配测量出材料的大热电功率,是热电材...
¥0小而轻的便携式X射线残余应力分析仪-μ-X360J
简介:小而轻的便携式X射线残余应力分析仪-μ-X360J/μ-X360s—满足日本标准JSMS-SD-14-20X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之一,被广泛的应用于科学研...
¥0脉冲磁场专用临界电流测量系统
简介:CryoPulse-BI系统提供了在高磁场和大电流密度下对超导材料的临界电流的直接测量方法。这个系统是与英国剑桥大学的应用超导和低温科学组合作开发的。通过调节时间,CryoPulse-BI系统能够产生同步的磁场和电流脉冲。当样品处于脉冲磁场之中时,用户能对超导样品施加一个可调节的电流...
¥0脉冲强磁场低温物性测量平台
简介:用于基础科学研究的脉冲强磁场一般磁场都较高,至少大于20T以上。脉冲磁体也都需要用液氮冷却。当前,科学家们专门开展了脉冲强磁场下物性研究的测量方法,可以开展诸如磁学,电输运,光学等学科的研究。脉冲强磁场低温物性测量平台就是将低温和脉冲强磁场作为测量环境,结合多种测...
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